プログラムの内容：
不良個数に関係するデータの解析としての不良集計，ｐ管理図，パレート図を主体としている
　不良集計，パレート図，Ｐ管理図以外にも、計量値データの代表的解析用として、ヒストグラム・工程能力，ヒストグラム・工程能力(Log)，XバーＲ管理図を用意しました。
　（パレート図およびP管理図においては、不良集計用のデータを転用して活用できるようにも設計している。）
不良個数に関係するデータの解析としての不良集計（表），ｐ管理図，パレート図により、製造工程で発生した不良データの記録と解析に有効です。